피커링 인터페이스, 일렉트로니카 2026에서 고밀도 PXI/PXIe 임의 파형 발생기 출시
복잡한 신호 생성과 채널당 비용 절감, 장기적인 제품 지원을 제공하는 신규 2채널 및 4채널 모듈.
www.pickeringtest.com
피커링 인터페이스(Pickering Interfaces)
는 독일 뮌헨에서 개최되는 일렉트로니카 2026(electronica 2026)에서 새로운 41-621 PXI 및 43-621 PXIe 임의 파형 발생기를 출시했다고 밝혔다. 이번 신제품은 항공전자 기능 시험, 항공기 엔진의 전자제어장치(FADEC) 시험, 다채널 센서 시뮬레이션 및 기존 자동화 테스트 장비(ATE)의 성능 개선 등 다양한 분야에 활용할 수 있도록 설계됐다. 하나의 3U 슬롯에서 최대 4개의 파형 생성 채널을 지원하는 것이 특징이다.
신제품은 20MHz 이상의 주파수에서 동작하는 PXI/PXIe 임의 파형 발생기 중 최고 수준의 채널 밀도를 제공한다. 특히 4채널 모델은 2채널 제품 대비 동일한 슬롯 공간에서 두 배의 채널을 지원해 섀시 공간을 절약하고 시스템 구축 비용을 절감할 수 있다. 피커링 인터페이스는 4채널 모델이 타사 제품 대비 채널당 약 40%의 비용 절감 효과를 제공할 것으로 예상하고 있다.
피커링 인터페이스 제품 생산 매니저 톰 사피(Tom Sarfi)는 “엔지니어들은 갈수록 복잡한 신호를 구현해야 하는 동시에 테스트 시스템의 소형화와 비용 절감, 장기적인 유지보수까지 고려해야 한다”며 “이번 신제품은 하나의 슬롯에서 더 많은 파형 생성 채널을 제공해 신호 생성의 유연성을 유지하면서도 시스템 설치 공간과 비용을 줄일 수 있도록 지원한다”고 말했다. 이어 “피커링 인터페이스의 장기적인 제품 지원 정책을 바탕으로 신규 테스트 시스템 구축은 물론 기존 자동화 테스트 장비(ATE)의 업그레이드에도 실용적인 솔루션을 제공한다”고 덧붙였다.
각 채널에는 최대 250MSamples/s의 샘플링 속도로 동작하는 16비트 디지털-아날로그 변환기(DAC)와 128MSamples의 온보드 파형 메모리가 탑재됐으며, 고임피던스 부하 기준 최대 20Vpp의 출력 진폭을 지원한다. 또한 최대 40MHz의 사인파를 생성할 수 있으며, 표준 파형과 사용자 정의 임의 파형을 모두 지원한다. 이를 통해 엔지니어는 복잡한 센서 신호와 다양한 테스트 신호를 정밀하게 재현할 수 있다.
주요 내장 기능으로는 진폭 변조(AM), 주파수 변조(FM), 처프(Chirp) 신호, 주파수 편이 변조(FSK), 위상 편이 변조(PSK), 펄스 폭 변조(PWM) 및 주파수 스윕 등이 있다. 또한 단일 모듈 내 채널뿐 아니라 여러 모듈 간에도 채널 동기화와 위상 정렬을 지원해, 다채널 시험 환경에서 여러 신호를 정밀하게 동기화해 생성할 수 있다.
신제품은 2채널 및 4채널 모델로 제공되며, 사용자는 테스트 시스템 환경에 따라 PXI 또는 PXIe 플랫폼을 선택할 수 있다. PXI 모델은 피커링 인터페이스의 LXI 및 LXI/USB 모듈형 섀시에서도 사용할 수 있어 이더넷 또는 USB 기반 제어 환경에도 유연하게 적용할 수 있다. 소프트웨어는 LabVIEW, Python 및 C#을 지원하며, 일반 파형 설정, 사용자 정의 파형 가져오기, 주파수 스윕 설정 등을 수행할 수 있는 소프트 프론트 패널(Soft Front Panel)도 제공한다.
피커링 인터페이스는 신제품에 대해 기본 3년의 품질 보증을 제공하며, 일반적으로 15~20년에 걸친 장기적인 제품 공급 정책을 운영하고 있다. 제품에 대한 자세한 정보는 공식 웹사이트(www.pickeringtest.com/ko-kr)에서 확인할 수 있다.
